Título :	The measurement of intelligence : an explanation of and a complete guide for the use of the Stanford revision and extension of the Binet-Simon intelligence scale
Tipo de documento:	texto impreso
Autores:	Lewis M. Terman, Autor ; J. J. (Joseph John) Findlay (1860-1940), Prefacio, etc
Mención de edición:	Reprint
Editorial:	London : George G. Harrap & Co.
Fecha de publicación:	1925
Número de páginas:	XVIII, 362 p.
Dimensiones:	18 cm
Nota general:	Bibliografía: p. [349]-358 Índice En portada aparecen también como lugares de publicación: Calcutta, Sydney
Idioma :	Inglés (eng)
Clasificación:	Stanford-Binet, Test de Tests de inteligencia

The measurement of intelligence : an explanation of and a complete guide for the use of the Stanford revision and extension of the Binet-Simon intelligence scale [texto impreso] / Lewis M. Terman, Autor ; J. J. (Joseph John) Findlay (1860-1940), Prefacio, etc  . -  Reprint . - London : George G. Harrap & Co., 1925 . - XVIII, 362 p. ; 18 cm.
Bibliografía: p. [349]-358
Índice
En portada aparecen también como lugares de publicación: Calcutta, Sydney
Idioma : Inglés (eng)

Clasificación:

Stanford-Binet, Test de Tests de inteligencia